Microscópio eletrônico de transmissão: diferenças entre revisões
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As bobinas que produzem o campo magnético estão localizados dentro do núcleo da lente. As bobinas podem conter uma corrente variável, mas geralmente utilizam altas tensões e, portanto, requerem isolamento significativo para evitar curto-circuito dos componentes da lente. Distribuidores térmicos são colocados para garantir a extração do calor gerado pela energia perdida com a resistência dos enrolamentos da bobina. Os enrolamentos podem ser refrigerados a água, usando uma fonte de água refrigerada, a fim de facilitar a remoção do grande calor produzido na operação.<ref name=Tsuno>Katsushige Tsuno; [http://www.crcnetbase.com/doi/abs/10.1201/9781420045550.ch4 Handbook of Charged Particle Optics], Second Edition, Jon Orloff CRC Press 2009; Pages 129–159; ISBN 978-1-4200-4554-3; ISBN 978-1-4200-4555-0; DOI: 10.1201/9781420045550.ch4</ref>
=== Aberturas ===
Aberturas são placas metálicas anulares, através das quais os elétrons que estão a uma distância fixa maior do eixo óptico podem ser excluídas. Estas são compostas por um pequeno disco metálico que é suficientemente espesso para impedir a passagem de elétrons através do disco, embora permita elétrons axiais. Esta permissão de elétrons centrais em um MET provoca dois efeitos simultâneos: por um lado, aberturas diminuem a intensidade do feixe pelos elétrons que são filtrados do feixe, o que pode ser desejável, no
As aberturas são tanto aberturas fixas dentro da coluna, tais como a lente do condensador, ou aberturas móveis, que podem ser inseridas ou retiradas do caminho do feixe, ou movidas no plano perpendicular ao caminho do feixe. Dispositivos de aberturas são dispositivos mecânicos que permitem a seleção de diferentes tamanhos de abertura, que podem ser utilizada pelo operador para a troca de intensidade e o efeito de filtragem da abertura. Dispositivos de aberturas são frequentemente equipados com micrômetros para mover a abertura, necessários durante a calibração óptica.<ref>{{Citar livro|autor=Om Johari |título=Scanning Electron Microscopy 1978|subtítulo=International Review of Advances in Techniques and Applications of the Scanning Electron|idioma=inglês |edição= |url=http://books.google.com/books?id=cAlqAAAAMAAJ&q=Apertures+are+either+a+fixed+aperture+within+the+column,+such+as+at+the+condensor+lens,+or+are+a+movable+aperture,++%2B%22electron+microscope%22&dq=Apertures+are+either+a+fixed+aperture+within+the+column,+such+as+at+the+condensor+lens,+or+are+a+movable+aperture,++%2B%22electron+microscope%22&hl=en&ei=IXI5TrPoDqGv0AGK3YTwAw&sa=X&oi=book_result&ct=result&resnum=2&ved=0CCwQ6AEwAQ|local=| editora=Cambridge University Press|ano=1978 |páginas= 898|volumes= |isbn=9780931288005 }}</ref>
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