Espectrometria de massa: diferenças entre revisões
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== SIMS ==
[[File:IMS3F pbmf.JPG|thumb|Antigo SIMS de setor magnético, modelo CAMECA IMS 3f, cujos sucessores foram os modelos 4f, 5f, 6f, 7f e o mais moderno, 7f-Auto, lançado em 2013.]]
O Espectrômetro de Massa por Ionização Secundária ou '''SIMS''', chamado também de ''ion probe'', é por excelência aplicado a análises [[Elemento (química)|elementares]] e [[isótopo|isotópicas]] em [[Ciência dos materiais|materiais]], [[mineral|minerais]], [[metal|metais]] e [[semicondutor]]es. No caso do NanoSIMS 50L<ref>[http://www.cameca.com/instruments-for-research/nanosims.aspx NanoSIMS - Espetrômetro de Massa por Íons Secundários, modelo 50L, Cameca]</ref>, além das tradicionais aplicações, há centenas de publicações científicas também em [[microbiologia]] e [[biologia celular]]. O SIMS dinâmico de setor magnético é um equipamento essencial para analisar [[Elemento (química)|elementos]] presentes em baixíssimas concentrações ou para se obter razões isotópicas de uma pequena parte da amostra. A ionização é realizada com impacto de feixe de íons de [[oxigênio]] ou [[césio]]. Com [[microscópio|microscopia ótica]] acoplada ao próprio equipamento e com detecção de elétrons secundários, os operadores selecionam a região de interesse (ROI). Até este ponto, a operação é similar à de uma microssonda eletrônica e permite análises sem destruição total das amostras. Para as análises, são necessários padrões de amostras na maioria dos espectrômetros. Dois modelos de SIMS destacam-se em datações de U-Pb. O primeiro foi desenvolvido na França, e sua linhagem deu origem ao tradicional IMS 1280<ref>[http://www.cameca.com/instruments-for-research/ims1280.aspx SIMS - Espetrômetro de Massa por Íons Secundários, modelo IMS 1280-HR, Cameca]</ref>, utilizado pela [[NASA]] no Projeto Apollo.
== TIMS ==
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