Microscópio eletrônico de transmissão: diferenças entre revisões
Conteúdo apagado Conteúdo adicionado
m Foram revertidas as edições de 177.137.237.50 (usando Huggle) (3.1.19) |
|||
Linha 32:
<ref>{{Citar livro|autor=Mulvey, Tom; Hawkes, Peter W. |título=Advances in Imaging and Electron Physics |subtítulo=The Growth of Electron Microscope |idioma=inglês |edição= |local=| editora=Academic Press |ano=1996 |páginas= 42|volumes=96 |isbn=0120147386 }}</ref>
Com o desenvolvimento do MET, iniciou-se a
|first = Albert V| coauthors = Isaacson, M. and Johnson, D.
|year = 1969| title = A Simple Scanning Electron Microscope
Linha 64:
Do topo para baixo, um MET consiste de uma fonte de emissão, a qual pode ser um filamento de [[tungstênio]], ou uma fonte de [[hexaboreto de lantânio]] (LaB<sub>6</sub>).<ref name=EgertonPPEM>{{cite book|title=Physical principles of electron microscopy|author=Egerton, R|year=2005|isbn=0387258000|publisher=Springer}}</ref> Para tungstênio, esta será da forma de um filamento de um grampo de cabelo, ou um filamento em forma de pequena espiga. Fontes de LaB<sub>6</sub> utilizam pequenos [[Monocristal|monocristais]]. Ao conectar este "canhão" a uma fonte de alta tensão (tipicamente ~100-300 kV) o canhão irá, dada corrente suficiente, iniciar a emitir elétrons seja por [[emissão termoiônica]] ou [[emissão de elétrons por campo]] no vácuo. Essa extração é normalmente auxiliada pelo uso de um [[cilindro de Wehnelt]]. Após a extração, as lentes superiores do MET permitem a formação da sonda eletrônica com o tamanho e localização desejada para a interação posterior com a amostra.<ref name="rose">{{cite journal| doi= 10.1088/0031-8949/9/1/014107|title=Optics of high-performance electron Microscopes|format=free download review on electron optics|volume= 9|year= 2008| author= Rose, H H| journal= Science and Technology of Advanced Materials| pages= 014107}}</ref>
A manipulação dos elétrons no tubo é causada por dois efeitos. A interação dos elétrons com o campo magnético causa o movimento dos elétrons na direção desejada, dessa forma permitindo o eletroímã manipular o feixe de elétrons. O uso de campos magnéticos permite a formação de lentes magnéticas de diferentes poderes de foco, a forma das lentes
</ref> O acoplamento de dois desvios em direções opostas, com um pequeno espaço intermediário, permite a formação de uma mudança no caminho do feixe, sendo utilizado em MET para o deslocamento do feixe. Posteriormente, isto é extremamente importante para [[microscópio eletrônico de varredura por transmissão]] (MEVT, '''''s'''canning '''t'''ransmission '''e'''lectron '''m'''icroscope'', STEM). A partir desses dois efeitos, bem como do uso de um sistema de imagem eletrônica, o controle suficiente sobre o trajeto do feixe é possível para a operação do MET.<ref name="nome">Bettina Voutou and Eleni-Chrysanthi Stefanaki; [http://www.mansic.eu/documents/PAM1/Giannakopoulos1.pdf Electron Microscopy: The Basics], based on the lecture of Dr. Konstantinos Giannakopoulos; Physics of Advanced Materials Winter School 2008. - '''www.mansic.eu''' {{en}}</ref> A configuração ótica do MET pode ser rapidamente modificada, diferentemente do microscópio ótico, cujo feixe de lentes devem ser posicionadas, mudando sua ampliação. Para MET bastam ser totalmente desativadas por meio de um chaveamento rápido (interruptores), cuja velocidade máxima é limitada pelos efeitos como a histerese magnética das lentes.<ref name=Bree>P. J. van Bree, C. M. M. van Lierop, and P. P. J. van den Bosch; [http://www.esi.nl/projects/condor/publications/P6_Bree%20etal_Control-oriented_hysteresis_models.pdf Control-Oriented Hysteresis Models for Magnetic Electron Lenses]; IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, VOL. 45, NO. 11, NOVEMBER 2009</ref>
| |||