Microscópio eletrônico de transmissão: diferenças entre revisões

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O objetivo de qualquer tipo de microscopia é determinar a estrutura do objeto a partir do qual está se obtendo a imagem observada. No caso da microscopia quantitativa tem-se de conhecer para este propósito não somente as propriedades ópticas do sistema de imagem mas também as características da iluminação do objeto sob investigação (aqui, num sentido independente de luz visível ou outro tipo de radiação).<ref name=Ferwerda>H. A. Ferwerda; Coherence of illumination in electron microscopy; ''Lecture Notes in Physics'', 1980, Volume 112/1980, 85-94, DOI: 10.1007/3-540-09727-9 67</ref>
 
Pode-se mostrar que para a microscopia convencional é suficiente conhecer-se as propriedades estatísticas de segunda ordem da iluminação. No caso da microscopia com luz visível as propriedades estatísticas de 2ª ordem são descritas pela [[teoria da coerência parcial]]. O conhecimento que tem sido adquirido neste campo pode ser transferido diretamente para o caso da microscopia eletrônica. Pode-se objetar que na microscopia eletrônica tem-se de levar em conta o fato que elétrons são [[férmion]]s enquanto fótons são [[bóson]]s. Como efeitos de ''[[spin]]'' são muito pequenos pode-se seguramente negligenciar os ''spins'' das partículas que tomam parte do processo de obtenção da imagem. Pode-se também ignorar a diferença em estatísticas, [[estatística de Fermi-Dirac|Fermi-Dirac]] para elétrons e [[estatística de Bose-Einstein|Bose-Einstein]] para fótons, porque os feixes usados em ambos os tipos de microscopia tem um baixo [[Nível degenerado de energia|parâmetro de degeneração]]. Então '''não''' existe uma diferença essencial entre microscopia com luz e elétrons.<ref name=Ferwerda /><ref>Alex C. McLaren; ''Transmission Electron Microscopy of Minerals and Rocks'' (Cambridge Topics in Mineral Physics and Chemistry); Cambridge University Press; 2 edition (April 26, 1991); ISBN-10: 0521350980; ISBN-13: 978-0521350983</ref>
 
===Elétrons===