Microscópio eletrônico de transmissão: diferenças entre revisões

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Um '''microscópio eletrônico de transmissão''' ('''''MET''''') é um [[microscópio]] no qual um feixe de [[elétrons]] é emitido em direção a uma amostra ultra fina, interagindo com a amostra enquanto a atravessa. A interação dos elétrons transmitidos através da amostra forma uma imagem que é ampliada e [[Foco|focada]] em um dispositivo de imagem, como uma tela [[fluorescente]] em uma camada de [[filme fotográfico]], ou detectada por um sensor como uma [[câmera CCD]].<ref name=Zinin>Pavel Zinin; [http://www.soest.hawaii.edu/~zinin/images/lectures/GG711/GG711Lec15TEM.pdf Transmission electron microscope]; - '''www.soest.hawaii.edu''' {{en}}</ref>
 
Um MET é capaz de exibir imagens a uma [[resolução]] significativamente maior em comparação com os [[Microscópio óptico|microscópios óticos]] devido ao pequeno [[Onda de matéria|comprimento de onda]] dos elétrons. Tal característica permite ao usuário examinar detalhes ínfimos, até mesmo uma simples coluna de átomos, a qual é dezenas de milhares vezes menor do que o menor objeto reconhecível em um microscópio ótico. O MET é um dos principais métodos de análise em uma vasta gamagrama de campos científicos, tanto em ciências físicas quanto biológicas. O MET é aplicado na pesquisa do [[câncer]], [[virologia]] e na [[ciência dos materiais]], além das pesquisas de poluição, [[nanotecnologia]] e [[semicondutor]]es.<ref name=Runyan>W. R. Runyan,T. J. Shaffner; [http://books.google.com.br/books?id=4VRTwtCxAcsC&printsec=frontcover&dq=Semiconductor+measurements+and+instrumentation++by+W.+R.+Runyan,+T.+J.+Shaffner&source=bl&ots=YkeyQht33e&sig=I6wMaTPBNB00t106gJajKPeJ0iY&hl=pt-BR&ei=s0ZQTczyEsabtweDssy3AQ&sa=X&oi=book_result&ct=result&resnum=1&ved=0CBcQ6AEwAA#v=onepage&q&f=false Semiconductor measurements and instrumentation]; McGraw-Hill Professional, 1998.</ref>
 
A pequenas ampliações, o ([[contraste]]) na imagem deve-se à absorção de elétrons pelo material, como consequência da sua espessura e composição.<ref name=Porter /> A ampliações maiores, a intensidade da imagem é resultante de um conjunto complexo de interações de ondas, o que requer a análise das imagens obtidas por parte de peritos. A alternância entre estas formas de uso permite observar através do MET modulações na composição química, orientação de cristais, estrutura eletrônica e a indução da mudança da fase eletrônica bem como as comuns imagens baseadas na absorção do material.<ref name=Goldstein>Goldstein, G. I.; Newbury, D. E.; Echlin, P.; Joy, D. C.; Fiori, C.; Lifshin, E.; [http://www.springer.com/materials/characterization+%26+evaluation/book/978-0-306-47292-3 Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis]. New York: Plenum Press. (1981).</ref>