Microscópio eletrônico de varredura: diferenças entre revisões

Trabalhando com elétrons de baixa energia (na faixa de 1 keV), um microscópio eletrônico de varredura a baixa voltagem, recentemente desenvolvido, dispensa a etapa de metalização da amostra e permite a observação direta da estrutura lamelar de [[polímero]]s semicristalinos, sem a necessidade de preparação da amostra, podendo a estrutura superficial do polímero ser investigada diretamente em alta resolução. Para a obtenção dos melhores tem-se trabalhado com amostras na forma de filmes semi-finos (espessuras na faixa de mm), dado que, para este caso, o recobrimento para condutividade elétrica pode ser dispensado, oferecendo acesso direto à superfície original da amostra. Outra vantagem é a facilidade com que uma determinada região de interesse na amostra pode ser selecionada e localizada em baixo ampliação. Desta maneira, por exemplo, [[esferulito]]s podem ser fotografados primordialmente num microscópio ótico, e identificados posteriormente no microscópio eletrônico para um estudo mais detalhado de sua estrutura lamelar.<ref name=":1">Hans-Jürgen Kestenbach, Nádia C. P. s. Nocite, Rinaldo Gregório P, Joachim Laos e Jürgen Petermann; [http://www.scielo.br/scielo.php?pid=S0104-14281997000100010&script=sci_arttext&tlng=pt Resolução Lamelar num Novo Microscópio Eletrônico de Varredura]; ''Polímeros'' vol.7 no.1 São Carlos Jan./Mar. 1997; doi: 10.1590/S0104-14281997000100010 - [http://www.revistapolimeros.org.br/PDF/v7n1a05.pdf PDF]</ref>

 

==Ver também==

* [[Nanotecnologia]]

* [[Microscópio eletrônico de transmissão]]

 

 

[[Categoria:Microscópios]]