Contribuições do(a) usuário(a) Tainaracoutinho
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Um utilizador com 54 edições. Conta criada a 6 de janeiro de 2017.
10 de janeiro de 2017
- 04h07min04h07min de 10 de janeiro de 2017 dif his +2 Microscopia por emissão balística de elétrons →Principios de Funcionamento: Etiqueta: Editor Visual
- 04h03min04h03min de 10 de janeiro de 2017 dif his +53 Técnicas de caracterização em nanotecnologia →3.Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h57min03h57min de 10 de janeiro de 2017 dif his +436 Técnicas de caracterização em nanotecnologia →3.Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h53min03h53min de 10 de janeiro de 2017 dif his +24 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h49min03h49min de 10 de janeiro de 2017 dif his −27 Microscopia por emissão balística de elétrons →Microscopia por Emissão Balística de Elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h42min03h42min de 10 de janeiro de 2017 dif his −4 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h42min03h42min de 10 de janeiro de 2017 dif his +51 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h41min03h41min de 10 de janeiro de 2017 dif his −1 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h29min03h29min de 10 de janeiro de 2017 dif his +1 062 Microscopia por emissão balística de elétrons →Microscopia por Emissão Balística de Elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h23min03h23min de 10 de janeiro de 2017 dif his +447 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h14min03h14min de 10 de janeiro de 2017 dif his +59 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h13min03h13min de 10 de janeiro de 2017 dif his +301 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h06min03h06min de 10 de janeiro de 2017 dif his −41 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 03h06min03h06min de 10 de janeiro de 2017 dif his +647 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 01h46min01h46min de 10 de janeiro de 2017 dif his +835 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 01h20min01h20min de 10 de janeiro de 2017 dif his +1 088 Microscopia por emissão balística de elétrons →Principios de Funcionamento: Etiqueta: Editor Visual
- 00h44min00h44min de 10 de janeiro de 2017 dif his +482 Microscopia por emissão balística de elétrons →Preparação de Amostra: Etiqueta: Editor Visual
9 de janeiro de 2017
- 22h41min22h41min de 9 de janeiro de 2017 dif his +311 Microscopia por emissão balística de elétrons →Microscópio de Tunelamento de Varredura (STM): Etiqueta: Editor Visual
- 22h39min22h39min de 9 de janeiro de 2017 dif his +167 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 22h38min22h38min de 9 de janeiro de 2017 dif his +166 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 22h35min22h35min de 9 de janeiro de 2017 dif his +546 Microscopia por emissão balística de elétrons →Limitações: Etiqueta: Editor Visual
- 22h28min22h28min de 9 de janeiro de 2017 dif his +34 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 22h26min22h26min de 9 de janeiro de 2017 dif his +1 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 22h25min22h25min de 9 de janeiro de 2017 dif his +448 Microscopia por emissão balística de elétrons →Principios de Funcionamento: Etiquetas: Referências removidas Editor Visual
- 22h14min22h14min de 9 de janeiro de 2017 dif his −1 Microscopia por emissão balística de elétrons →Microscópio de Tunelamento de Varredura (STM): Etiqueta: Editor Visual
- 22h04min22h04min de 9 de janeiro de 2017 dif his +47 Usuário Discussão:Hume42 novo tópico: →FONTES
- 21h50min21h50min de 9 de janeiro de 2017 dif his +41 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 21h47min21h47min de 9 de janeiro de 2017 dif his −11 Microscopia por emissão balística de elétrons →Resolução do BEEM: Etiqueta: Editor Visual
- 21h45min21h45min de 9 de janeiro de 2017 dif his −4 Microscopia por emissão balística de elétrons →Microscópio de Tunelamento de Varredura (STM): Etiqueta: Editor Visual
- 21h43min21h43min de 9 de janeiro de 2017 dif his +10 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 21h40min21h40min de 9 de janeiro de 2017 dif his +38 Microscopia por emissão balística de elétrons →Microscópio de Tunelamento de Varredura (STM): Etiqueta: Editor Visual
- 21h38min21h38min de 9 de janeiro de 2017 dif his −37 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 21h37min21h37min de 9 de janeiro de 2017 dif his +184 Microscopia por emissão balística de elétrons →Microscópio de Tunelamento de Varredura (STM): Etiqueta: Editor Visual
- 21h35min21h35min de 9 de janeiro de 2017 dif his +1 157 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 21h17min21h17min de 9 de janeiro de 2017 dif his 0 Microscopia por emissão balística de elétrons →Principios de Funcionamento: Etiqueta: Editor Visual
- 21h16min21h16min de 9 de janeiro de 2017 dif his +99 Microscopia por emissão balística de elétrons →[2]Princípios de Funcionamento: Etiqueta: Editor Visual
- 21h14min21h14min de 9 de janeiro de 2017 dif his +278 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 21h10min21h10min de 9 de janeiro de 2017 dif his +545 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiquetas: Referências removidas Editor Visual
- 21h02min21h02min de 9 de janeiro de 2017 dif his +219 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h55min20h55min de 9 de janeiro de 2017 dif his +39 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h52min20h52min de 9 de janeiro de 2017 dif his +64 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h50min20h50min de 9 de janeiro de 2017 dif his +193 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h48min20h48min de 9 de janeiro de 2017 dif his 0 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h48min20h48min de 9 de janeiro de 2017 dif his +321 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h36min20h36min de 9 de janeiro de 2017 dif his −549 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h13min20h13min de 9 de janeiro de 2017 dif his +4 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h07min20h07min de 9 de janeiro de 2017 dif his +194 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 20h03min20h03min de 9 de janeiro de 2017 dif his +209 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 19h56min19h56min de 9 de janeiro de 2017 dif his +51 Microscopia por emissão balística de elétrons Etiqueta: Editor Visual
- 19h47min19h47min de 9 de janeiro de 2017 dif his +197 N Microscopia por emissão balística de elétrons nova página: BEEM é uma forma modificada de um microscópio de tunelamento de varredura (STM) que permite o estudo em nanoescala de transporte de portador de não equilíbrio através de interf... Etiqueta: Página nova sem referências