Microscópio eletrônico de transmissão: diferenças entre revisões
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[[Ficheiro:Polio EM PHIL 1875 lores.PNG|thumb|right|Uma imagem obtida a partir do MET. O vírus da poliomelite mede 30 [[nanômetros|nm]].<ref>{{cite web|url=http://users.rcn.com/jkimball.ma.ultranet/BiologyPages/V/Viruses.html|title=Viruses}}</ref>]]
Um '''microscópio eletrônico de transmissão''' ('''''MET''''') JESUS é um [[microscópio]] no qual um feixe de [[elétrons]] é emitido em direção a uma amostra ultra fina, interagindo com a amostra enquanto a atravessa. A interação dos elétrons transmitidos através da amostra forma uma imagem que é ampliada e [[Foco|focada]] em um dispositivo de imagem, como uma tela [[fluorescente]] em uma camada de [[filme fotográfico]], ou detectada por um sensor como uma [[câmera CCD]].<ref name=Zinin>Pavel Zinin; [http://www.soest.hawaii.edu/~zinin/images/lectures/GG711/GG711Lec15TEM.pdf Transmission electron microscope]; - '''www.soest.hawaii.edu''' {{en}}</ref> ELE E LINDO TUTU
Um MET é capaz de exibir imagens a uma [[resolução]] significativamente maior em comparação com os [[Microscópio óptico|microscópios óticos]] devido ao pequeno [[Onda de matéria|comprimento de onda]] dos elétrons. Tal característica permite ao usuário examinar detalhes ínfimos, até mesmo uma simples coluna de átomos, a qual é dezenas de milhares vezes menor do que o menor objeto reconhecível em um microscópio ótico. O MET é um dos principais métodos de análise em uma vasta gama de campos científicos, tanto em ciências físicas quanto biológicas. O MET é aplicado na pesquisa do [[câncer]], [[virologia]] e na [[ciência dos materiais]], além das pesquisas de poluição, [[nanotecnologia]] e [[semicondutor]]es.<ref name=Runyan>W. R. Runyan,T. J. Shaffner; [http://books.google.com.br/books?id=4VRTwtCxAcsC&printsec=frontcover&dq=Semiconductor+measurements+and+instrumentation++by+W.+R.+Runyan,+T.+J.+Shaffner&source=bl&ots=YkeyQht33e&sig=I6wMaTPBNB00t106gJajKPeJ0iY&hl=pt-BR&ei=s0ZQTczyEsabtweDssy3AQ&sa=X&oi=book_result&ct=result&resnum=1&ved=0CBcQ6AEwAA#v=onepage&q&f=false Semiconductor measurements and instrumentation]; McGraw-Hill Professional, 1998.</ref>
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Os componentes incluem o núcleo metálico, a bobina magnética, os pólos, os cabeçotes e os circuitos de controle externo. Os cabeçotes devem ser fabricados em uma maneira muito simétrica, já que constituem as [[condições de contorno]] para o campo magnético que forma a lente. Imperfeições no fabrico dos cabeçotes podem induzir graves distorções na simetria do campo magnético, que induzem a distorções que acabarão por limitar a capacidade das lentes para reproduzir o [[Óptica de Fourier|plano do objeto]]. As dimensões exatas do intervalo, do diâmetro interno do polo e adelgaçamento, bem como a concepção total da lente é frequentemente realizada por [[Método dos elementos finitos|análise de elementos finitos]] do campo magnético, enquanto considerando as limitações térmicas e elétricas do projeto.<ref name="HbCPO"/>
As bobinas que produzem o campo magnético estão localizados dentro do núcleo da lente. As bobinas podem conter uma corrente variável, mas geralmente utilizam altas tensões e, portanto, requerem isolamento significativo para evitar curto-circuito dos componentes da lente. Distribuidores térmicos são colocados para garantir a extração do calor gerado pela energia perdida com a resistência dos enrolamentos da bobina. Os enrolamentos podem ser refrigerados a água, usando uma fonte de água refrigerada, a fim de facilitar a remoção do grande calor produzido na operação.<ref name="Tsuno">Katsushige Tsuno; [http://www.crcnetbase.com/doi/abs/10.1201/9781420045550.ch4 Handbook of Charged Particle Optics], Second Edition, Jon Orloff CRC Press 2009; Pages 129–159; ISBN 978-1-4200-4554-3; ISBN 978-1-4200-4555-0; DOI: 10.1201/9781420045550.ch4</ref>
=== Aberturas ===
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{{AP|[[Espectroscopia de perda de energia de elétrons]]}}
Utilizando a técnica avançada de [[Espectroscopia de perda de energia de elétrons|EELS]] (do inglês '''''E'''lectron '''E'''nergy '''L'''oss '''S'''pectroscopy'', espectroscopia de perda de energia de elétrons, também conhecida como espectroscopia de impacto de elétrons), para METs devidamente equipados, elétrons pode ser rejeitados com base em sua voltagem (tensão) (a qual, devido à carga constante é sua energia), usando-se dispositivos baseados em [[Instrumento setor|setor magnético]] conhecidos como espectrômetros EELS. Estes dispositivos permitem a seleção de valores específicos de energia, que podem ser associados com a maneira como os elétrons interagem com a amostra. Por exemplo, diferentes elementos em uma amostra resultam em diferentes energias de elétrons no feixe após a amostra. Isto normalmente resulta em aberração cromática - no entanto este efeito pode, por exemplo, ser usado para gerar uma imagem que fornece informações sobre a composição elementar, baseado na transição atômica durante a interação elétron-elétron.<ref name="EgertonEELS">R. F. Egerton; [http://books.google.com.au/books?hl=en&lr=&id=ieMqIzeHdC4C&oi=fnd&pg=PA1&dq=magnetic+lens+TEM&ots=_C4HGb6DUf&sig=uIUz8ZFFBscOoU5zY9jKfHYPp4M#PPA11,M1 Electron energy-loss spectroscopy in the electron microscope]; Springer, 1996. ISBN 9780306452239</ref>
Espectrômetros EELS podem muitas vezes ser operados nos dois modos, de espectroscopia e de imagem, permitindo o isolamento ou rejeição de feixes [[dispersão elástica|elasticamente dispersos]]. Como para muitas imagens o espalhamento inelástico irá incluir informações que não podem ser de interesse para o investigador, reduzindo assim os sinais observáveis de interesse, a imagem de EELS pode ser usada para realçar o contraste das imagens observadas, incluindo tanto o campo brilhante e a difração, rejeitando componentes indesejáveis.<ref>{{Citar livro|autor=Channing C. Ahn |título=Transmission electron energy loss spectrometry in materials science and the EELS Atlas|subtítulo=|idioma=inglês |edição= |url=http://books.google.com/books?id=GiKVrm1fiMYC&printsec=frontcover&dq=technique+of+EELS++%2B%22electron+microscope%22&hl=en&ei=_3U5Tvz0LNKv0AGC0OjaAw&sa=X&oi=book_result&ct=result&resnum=1&ved=0CCgQ6AEwAA|local=| editora=Cambridge University Press|ano=2011 |páginas= 457|volumes= |isbn=9783527405657 }}</ref>
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